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必赢626net入口在动态随机存储器领域取得重要进展

稿件来源:重点实验室 段新绿、张康玮 发布时间:2022-06-30

  DRAM是存储器领域最重要的分支之一。随着尺寸微缩,传统1T1C结构的DRAM的存储电容限制问题以及相邻存储单元之间的耦合问题愈发显著,导致DRAM进一步微缩面临挑战。基于铟镓锌氧(IGZO)晶体管的2T0C-DRAM有望克服1T1C-DRAM的微缩挑战,在3D DRAM方面发挥更大的优势。但目前的研究工作都基于平面结构的IGZO器件,形成的2T0C单元尺寸(大约20F2)比相同特征尺寸下的1T1C单元尺寸(6F2)大很多,使得IGZO-DRAM缺少密度优势。 

  针对平面结构IGZO-DRAM的密度问题,必赢626net入口重点实验室刘明院士团队与华为海思团队联合在2021IEDM国际大会报道的垂直环形沟道结构(Channel-All-Around, CAAIGZO FET 的基础上,再次成功将器件的关键尺寸(CD)微缩至50 nm。微缩后的IGZO FET具有优秀的晶体管特性,包括约32.8 μA/μm的开态电流(Vth + 1 V时)和约92 mV/dec的亚阈值摆幅。同时,器件在-40 120 的温度范围内表现出了良好的热稳定性和可靠性。 

  该研究成果有助于推动IGZO晶体管在高密度3D DRAM领域的应用。基于该成果的文章“Vertical Channel-All-Around (CAA) IGZO FET under 50 nm CD with High Read Current of 32.8 μA/μm (Vth + 1 V), Well-performed Thermal Stability up to 120 for Low Latency, High-density 2T0C 3D DRAM Application”入选2022 VLSI,且获选Highlight文章。必赢626net入口博士生段新绿和华为海思黄凯亮博士为共同第一作者,必赢626net入口李泠研究员、耿副研究员以及华为海思景蔚亮博士为通讯作者。 

 

1. 关键尺寸(CD50 nmIGZO-CAA FET的截面电镜图 

2. 关键尺寸(CD50 nmIGZO-CAA FET的转移输出曲线

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